Zuntz optikoa OM1
Erreferentzia
IEC 60794-1-1 | Zuntz optikoko kableak-1. zatia- 1: Zehaztapen orokorra- Orokorra |
IEC60794- 1-2 IEC 60793-2-10 | Zuntz optikoak -2. zatia- 10: Produktuen zehaztapenak - A1 kategoriako zuntz anitzeko zehaztapen sekzionalak |
IEC 60793- 1-20 | Zuntz optikoak - 1-20. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Zuntz-geometria |
IEC 60793- 1-21 | Zuntz optikoak - 1-21. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Estalduraren geometria |
IEC 60793- 1-22 | Zuntz optikoak - 1-22. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Luzera neurtzea |
IEC 60793- 1-30 | Zuntz optikoak - 1-30. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Zuntzekiko froga |
IEC 60793-1-31 | Zuntz optikoak - 1-31. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Trakzio-erresistentzia |
IEC 60793- 1-32 | Zuntz optikoak - 1-32. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Estaldura kentzeko gaitasuna |
IEC 60793- 1-33 | Zuntz optikoak - 1-33. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Tentsio-korrosioarekiko sentikortasuna |
IEC 60793- 1-34 | Zuntz optikoak - 1-34 zatia: neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Zuntz kizkurra |
IEC 60793- 1-40 | Zuntz optikoak - 1-40. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Atenuazioa |
IEC 60793-1-41 | Zuntz optikoak - 1-41. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Banda-zabalera |
IEC 60793- 1-42 | Zuntz optikoak - 1-42. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Dispertsio kromatikoa |
IEC 60793- 1-43 | Zuntz optikoak - 1-43. zatia: Neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Zenbakizko irekidura |
IEC 60793-1-46 | Zuntz optikoak - 1-46. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Transmitantzia optikoaren aldaketen jarraipena. |
IEC 60793-1-47 | Zuntz optikoak - 1-47. zatia: neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Makroflexio-galera |
IEC 60793-1-49 | Zuntz optikoak - 1-49. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Modu diferentziala atzerapena |
IEC 60793- 1-50 | Zuntz optikoak - 1-50. zatia: neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Bero hezea (egoera egonkorrean) |
IEC 60793-1-51 | Zuntz optikoak - 1-51. zatia: neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Bero lehorra |
IEC 60793-1-52 | Zuntz optikoak - 1-52. zatia: Neurtzeko metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Tenperatura-aldaketa |
IEC 60793- 1-53 | Zuntz optikoak - 1-53. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak Ur-murgiltzea |
Produktuaren Aurkezpena
Aplikazio-eszenatokiak
Errendimendu Ezaugarriak
Produktuaren zehaztapena
Parametroa | Baldintzak | Unitateak | Balioa |
Optikoa (A/B kalifikazioa) | |||
Atenuazioa | 850 nm | dB/km | ≤2,8/≤3,0 |
1300 nm | dB/km | ≤0,7/≤1,0 | |
Banda zabalera (Gehiegi beteta Abiarazi) | 850 nm | MHz.km | ≥200/≥160 |
1300 nm | MHz.km | ≥500/≥200 | |
Zenbakizko Irekidura |
|
| 0,275±0,015 |
Talde eraginkorra errefrakzio-indizea | 850 nm |
| 1.496 |
1300 nm |
| 1.491 | |
Atenuazioa Ez-uniformitatea | 1300 nm | dB/km | ≤0,10 |
Etenaldi partziala | 1300 nm | dB | ≤0,10 |
Geometrikoa | |||
Nukleoaren diametroa |
| μm | 62,5±2,5 |
Oinarrizko Ez-Zirkulartasuna |
| % | ≤5,0 |
Estalduraren Diametroa |
| μm | 125±1,0 |
Estaldura Ez-Zirkulartasuna |
| % | ≤1,0 |
Nukleoaren/estalduraren kontzentrazio-errorea |
| μm | ≤1,5 |
Estalduraren diametroa (kolorerik gabekoa) |
| μm | 242±7 |
Estaldura/Estaldura Zentrikotasun errorea |
| μm | ≤12,0 |
Ingurumena (850 nm, 1300 nm) | |||
Tenperatura Txirrindularitza | -60℃ to+85℃ | dB/km | ≤0,10 |
Tenperatura Hezetasuna Txirrindularitza | - 10 ℃ eta > 85 ℃ arte % 98 RH |
dB/km |
≤0,10 |
Tenperatura eta Hezetasun Altuak | 85 ℃ RH% 85ean | dB/km | ≤0,10 |
Ur-murgiltzea | 23℃ | dB/km | ≤0,10 |
Tenperatura handiko zahartzea | 85℃ | dB/km | ≤0,10 |
Mekanikoa | |||
Froga Estresa |
| % | 1.0 |
| kpsi | 100 | |
Estaldura-zerrenda-indarra | Gailurra | N | 1,3-8,9 |
Batez bestekoa | N | 1.5 | |
Neke dinamikoa (Nd) | Balio Tipikoak |
| ≥20 |
Makrobending galera | |||
R37,5 mm×100 t | 850 nm 1300 nm | dB dB | ≤0,5 ≤0,5 |
Entrega-luzera | |||
Bobinaren luzera estandarra |
| km | 1.1- 17.6 |
Zuntz optikoko proba
Fabrikazio-aldian, zuntz optiko guztiak probatu egingo dira hurrengo proba-metodoaren arabera.
Elementua | Proba metodoa |
Ezaugarri optikoak | |
Atenuazioa | IEC 60793- 1-40 |
Dispertsio kromatikoa | IEC60793-1-42 |
Transmisio optikoaren aldaketa | IEC60793-1-46 |
Modu diferentziala atzerapena | IEC60793-1-49 |
Tolestura-galera | IEC 60793- 1-47 |
Banda-zabalera modala | IEC60793-1-41 |
Zenbakizko irekidura | IEC60793-1-43 |
Ezaugarri geometrikoak | |
Nukleoaren diametroa | IEC 60793- 1-20 |
Estalduraren diametroa | |
Estalduraren diametroa | |
Estaldura ez-zirkulartasuna | |
Nukleoaren/estalduraren zentrokidetasunaren errorea | |
Estaldura/estaldura zentrokidetasun errorea | |
Ezaugarri mekanikoak | |
Froga proba | IEC 60793- 1-30 |
Zuntz kizkurra | IEC 60793- 1-34 |
Estaldura-zerrenda-indarra | IEC 60793- 1-32 |
Ingurumenaren ezaugarriak | |
Tenperaturak eragindako atenuazioa | IEC 60793-1-52 |
Bero lehorra eragindako atenuazioa | IEC 60793-1-51 |
Ur-murgiltzeak eragindako atenuazioa | IEC 60793- 1-53 |
Bero hezeak eragindako atenuazioa | IEC 60793- 1-50 |