ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ OM2

ITU-T G.651.1	ഒപ്റ്റിക്കൽ ആക്സസ് നെറ്റ്‌വർക്കിനായുള്ള 50/125 μm മൾട്ടിമോഡ് ഗ്രേഡഡ് ഇൻഡക്സ് ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ കേബിളിൻ്റെ സവിശേഷതകൾ
IEC 60794- 1- 1	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ കേബിളുകൾ-ഭാഗം 1- 1: ജനറിക് സ്പെസിഫിക്കേഷൻ- പൊതുവായത്
IEC60794- 1-2 IEC 60793-2- 10	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 2- 10: ഉൽപ്പന്ന സവിശേഷതകൾ - വിഭാഗം A1 മൾട്ടിമോഡ് ഫൈബറുകൾക്കുള്ള സെക്ഷണൽ സ്പെസിഫിക്കേഷൻ
IEC 60793- 1-20	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-20: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഫൈബർ ജ്യാമിതി
IEC 60793- 1-21	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-21: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - കോട്ടിംഗ് ജ്യാമിതി
IEC 60793- 1-22	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-22: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - നീളം അളക്കൽ
IEC 60793- 1-30	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-30: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഫൈബർ പ്രൂഫ് ടെസ്റ്റ്
IEC 60793- 1-31	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-31: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ടെൻസൈൽ ശക്തി
IEC 60793- 1-32	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-32: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - കോട്ടിംഗ് സ്ട്രിപ്പബിലിറ്റി
IEC 60793- 1-33	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-33: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - സ്ട്രെസ് കോറഷൻ സസ്പെസിബിലിറ്റി
IEC 60793- 1-34	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-34: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഫൈബർ ചുരുളൻ
IEC 60793- 1-40	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-40: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - അറ്റൻവേഷൻ
IEC 60793- 1-41	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-41: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - ബാൻഡ്‌വിഡ്ത്ത്
IEC 60793- 1-42	ഒപ്റ്റിക്കൽ നാരുകൾ - ഭാഗം 1-42: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - ക്രോമാറ്റിക് ഡിസ്പർഷൻ
IEC 60793- 1-43	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-43: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - സംഖ്യാ അപ്പെർച്ചർ
IEC 60793- 1-46	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-46: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഒപ്റ്റിക്കൽ ട്രാൻസ്മിറ്റൻസിലെ മാറ്റങ്ങളുടെ നിരീക്ഷണം
IEC 60793- 1-47	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-47: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - മാക്രോബെൻഡിംഗ് നഷ്ടം
IEC 60793- 1-49	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-49: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - ഡിഫറൻഷ്യൽ മോഡ് കാലതാമസം
IEC 60793- 1-50	ഒപ്റ്റിക്കൽ നാരുകൾ - ഭാഗം 1-50: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - നനഞ്ഞ ചൂട് (സ്ഥിരമായ അവസ്ഥ)
IEC 60793- 1-51	ഒപ്റ്റിക്കൽ നാരുകൾ - ഭാഗം 1-51: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - ഉണങ്ങിയ ചൂട്
IEC 60793- 1-52	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-52: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - താപനിലയിലെ മാറ്റം
IEC 60793- 1-53	ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-53: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - വെള്ളത്തിൽ മുക്കി

മൾട്ടികോം ® ബെൻഡിംഗ് ഇൻസെൻസിറ്റീവ് 50/125 മൾട്ടിമോഡ് ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ ഒരു ഗ്രേഡഡ് ഇൻഡക്സ് മൾട്ടിമോഡ് ഫൈബറാണ്. ഈ ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ 850 nm, 1300 nm ഓപ്പറേറ്റിംഗ് വിൻഡോകളുടെ സവിശേഷതകൾ സമഗ്രമായി ഒപ്റ്റിമൈസ് ചെയ്യുന്നു, ഉയർന്ന ബാൻഡ്‌വിഡ്ത്ത്, താഴ്ന്ന അറ്റന്യൂവേഷൻ, മികച്ച ബെൻഡിംഗ് ഇൻസെൻസിറ്റീവ് പ്രകടനം എന്നിവ നൽകുന്നു, ഇത് 850 nm, 1300 nm വിൻഡോകളിലെ ഉപയോഗ ആവശ്യകതകൾ നിറവേറ്റുന്നു. ബെൻഡിംഗ് ഇൻസെൻസിറ്റീവ് മൾട്ടിമോഡ് ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ ISO/IEC 11801 OM2 സാങ്കേതിക സവിശേഷതകളും IEC 60793-2-10-ലെ A1a.1 തരം ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകളും പാലിക്കുന്നു.

പരാമീറ്റർ	വ്യവസ്ഥകൾ	യൂണിറ്റുകൾ	മൂല്യം
ഒപ്റ്റിക്കൽ (A/B+/B ഗ്രേഡ്)
ശോഷണം	850 എൻഎം	dB/km	≤2.4/≤2.5/≤2.5
	1300 എൻഎം	dB/km	≤0.6/≤0.7/≤0.7
ബാൻഡ്‌വിഡ്ത്ത് (ഓവർഫിൽഡ് ലോഞ്ച്)	850 എൻഎം	MHz.km	≥500/≥400/≥200
	1300 എൻഎം	MHz.km	≥500/≥400/≥200
സംഖ്യാ അപ്പെർച്ചർ			0.200 ± 0.015
സീറോ ഡിസ്പർഷൻ തരംഗദൈർഘ്യം		nm	1295-1340
ഫലപ്രദമായ ഗ്രൂപ്പ് റിഫ്രാക്റ്റീവ് ഇൻഡക്സ്	850 എൻഎം		1.482
	1300 എൻഎം		1.477
അറ്റൻയുവേഷൻ നോൺ യൂണിഫോർമിറ്റി		dB/km	≤0.10
ഭാഗിക വിരാമം		dB	≤0.10
ജ്യാമിതീയ
കോർ വ്യാസം		μm	50.0± 2.5
കോർ നോൺ-വൃത്താകൃതി		%	≤6.0
ക്ലാഡിംഗ് വ്യാസം		μm	125 ± 1.0
ക്ലാഡിംഗ് നോൺ-വൃത്താകൃതി		%	≤1.0
കോർ/ക്ലാഡിംഗ് കോൺസെൻട്രിസിറ്റി പിശക്		μm	≤1.0
കോട്ടിംഗ് വ്യാസം (നിറമില്ലാത്തത്)		μm	245±7
കോട്ടിംഗ് / ക്ലാഡിംഗ് ഏകാഗ്രത പിശക്		μm	≤10.0
പരിസ്ഥിതി (850nm, 1300nm)
താപനില സൈക്ലിംഗ്	-60℃ വരെ+85℃	dB/km	≤0.10
താപനില ഹ്യുമിഡിറ്റി സൈക്ലിംഗ്	- 10℃ മുതൽ ＋85℃ വരെ 98% RH	dB/km	≤0.10
ഉയർന്ന താപനിലയും ഉയർന്ന ഈർപ്പവും	85% RH-ൽ 85℃	dB/km	≤0.10
വെള്ളം നിമജ്ജനം	23℃	dB/km	≤0.10
ഉയർന്ന താപനില പ്രായമാകൽ	85℃	dB/km	≤0.10
മെക്കാനിക്കൽ
തെളിവ് സമ്മർദ്ദം		%	1.0
		kpsi	100
കോട്ടിംഗ് സ്ട്രിപ്പ് ഫോഴ്സ്	കൊടുമുടി	എൻ	1.3-8.9
	ശരാശരി	എൻ	1.5
ചലനാത്മക ക്ഷീണം (Nd)	സാധാരണ മൂല്യങ്ങൾ		≥20
മാക്രോബെൻഡിംഗ് നഷ്ടം
R15 mm×2 t	850 എൻഎം 1300 എൻഎം	dB dB	≤0.1 ≤0.3
R7.5 mm×2 t	850 എൻഎം 1300 എൻഎം	dB dB	≤0.2 ≤0.5
ഡെലിവറി ദൈർഘ്യം
സാധാരണ റീൽ നീളം		കി.മീ	1.1- 17.6

 

നിർമ്മാണ കാലയളവിൽ, എല്ലാ ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകളും ഇനിപ്പറയുന്ന ടെസ്റ്റ് രീതിക്ക് അനുസൃതമായി പരിശോധിക്കേണ്ടതാണ്.

ഇനം	പരീക്ഷണ രീതി
ഒപ്റ്റിക്കൽ സവിശേഷതകൾ
ശോഷണം	IEC 60793- 1-40
ക്രോമാറ്റിക് ഡിസ്പർഷൻ	IEC60793- 1-42
ഒപ്റ്റിക്കൽ ട്രാൻസ്മിഷൻ മാറ്റം	IEC60793- 1-46
ഡിഫറൻഷ്യൽ മോഡ് കാലതാമസം	IEC60793- 1-49
വളയുന്ന നഷ്ടം	IEC 60793- 1-47
മോഡൽ ബാൻഡ്‌വിഡ്ത്ത്	IEC60793- 1-41
സംഖ്യാ അപ്പെർച്ചർ	IEC60793- 1-43
ജ്യാമിതീയ സവിശേഷതകൾ
കോർ വ്യാസം	IEC 60793- 1-20
ക്ലാഡിംഗ് വ്യാസം
കോട്ടിംഗ് വ്യാസം
ക്ലാഡിംഗ് നോൺ-വൃത്താകൃതി
കോർ/ക്ലാഡിംഗ് കോൺസെൻട്രിസിറ്റി പിശക്
ക്ലാഡിംഗ്/കോട്ടിംഗ് കോൺസെൻട്രിസിറ്റി പിശക്
മെക്കാനിക്കൽ സവിശേഷതകൾ
തെളിവ് പരിശോധന	IEC 60793- 1-30
ഫൈബർ ചുരുളൻ	IEC 60793- 1-34
കോട്ടിംഗ് സ്ട്രിപ്പ് ഫോഴ്സ്	IEC 60793- 1-32
പാരിസ്ഥിതിക സവിശേഷതകൾ
താപനില പ്രേരിതമായ ശോഷണം	IEC 60793- 1-52
വരണ്ട ചൂട് പ്രേരിതമായ ശോഷണം	IEC 60793- 1-51
വെള്ളം നിമജ്ജനം പ്രേരിതമായ ശോഷണം	IEC 60793- 1-53
നനഞ്ഞ ചൂട് പ്രേരിതമായ അറ്റന്യൂവേഷൻ